製品情報

事務機測定製品一覧

UFP規制対応

  • 凝縮粒子カウンター(2.5nm対応)CPC3756

    最小検出限界2.5 nmを可能にした
    ブタノール型CPC

  • 凝縮粒子カウンター(高濃度対応) CPC3752

    高濃度の粒子測定が可能な
    多目的型CPC

  • 携帯型凝縮粒子カウンター     CPC3007       

    ハンディタイプの高性能CPC、様々な環境モニタリングに応用可能

  • 走査式モビリティーパーティクルサイザー SMPS 3938シリーズ

    DMAとCPCの自由選択で構成される走査式ナノ粒子粒径分布計測器

  • フィールド用ナノ粒子計測装置 NanoScan SMPS3910

    小型・ポータブルタイプの
    高性能粒径分布計測器

  • リアルタイム自排微粒子解析装置    EEPS 3090

    エンジンから排出される粒子の個数濃度及び粒径分布をリアルタイム計測

  • 高速応答型パーティクルサイザー    FMPS 3091

    高い時間分解能を備えた
    ナノ粒子粒径分布計測器

FP測定

  • APSスペクトロメーター       3321

    高分解で粒径分布(空気動力学的径)をリアルタイム測定

  • 高濃度対応パーティクルカウンター   OPS 3330

    小型・軽量タイプの
    粒径分布計測器

  • 大気用TEOMモニター          1405

    リアルタイム、長期継続的に計測する大気粒子モニター(TEOM1400後継モデル)

  • エアロゾルスペクトロメーター welas® digital シリーズ

    白色光源(キセノンランプ)を用いた
    粒径測定装置

  • エアロゾルスペクトロメーター   Promoシリーズ(モニター内蔵型)

    白色光源(キセノンランプ)を用いた粒径測定装置(モニター内蔵タイプ)

  • welas®                センサーシリーズ

    エアロゾルスペクトロメーターwelas® /Promoシリーズ用センサー

先端研究開発(組成・分析)

  • 1nm走査式モビリティーパーティクル サイザー 1nm SMPS 3938E77

    1nm台まで測定可能範囲が広がった走査式ナノ粒子粒径分布計測器

  • 電子式低圧インパクタ         ELPI+

    リアルタイムで粒径分布、
    濃度測定が可能

  • アンダーセン型低圧カスケードインパクター MAIS-10

    分析部分の粒子捕集量増加を可能にした小型多段多孔式低圧カスケードインパクター

  • ロープレッシャーインパクター     LP-20

    0.06μmまでの微小粒子を分級捕集可能な多段・多孔式インパクター

粒子発生・点検確認(発生器・簡易点検)

  • エアロゾルジェネレーター(乾燥分散式) RBG1000シリーズ

    乾燥分散型のエアロゾル発生装置。発生粒径0.1~100μm

  • エアロゾルジェネレーター(乾燥分散式) RBG2000シリーズ

    乾燥分散型の
    エアロゾルジェネレーター

  • エアロゾルアトマイザー        3079

    溶媒中からサブミクロン領域のエアロゾル粒子を発生できる噴霧式発生装置

  • エレクトロスプレー式粒子発生器    3480

    エレクトロスプレー法により、単分散ナノ粒子を安定して発生することが可能

  • エアロゾルダイリューションシステム VKL シリーズ

    吸引ノズル、エジェクターノズル、ミキシングチャンバーで構成された希釈装置