作業環境測定製品一覧
ナノ材料製造・加工現場測定
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空気質モニタ BlueSky
PM2.5、PM10などリアルタイム空気質データをクラウド管理
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パーティクルサイズセレクター PSS376060
凝縮粒子カウンター（CPC）の最小検出粒径をコントロール
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携帯型凝縮粒子カウンター CPC3007
ハンディタイプの高性能CPC。様々な環境モニタリングに応用可能
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走査式モビリティーパーティクルサイザー SMPS 3938シリーズ
DMAとCPCの自由選択で構成される走査式ナノ粒子粒径分布計測器
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フィールド用ナノ粒子計測装置 NanoScan SMPS 3910
小型・ポータブルタイプの高性能粒径分布計測器
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高濃度対応パーティクルカウンター OPS3330
小型・軽量タイプの粒径分布計測器
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高性能デジタル粉じん計 DustTrakⅡ 8530/8532
空気中のダスト、煙、ヒュームやミストなどのエアロゾル質量と粒径を同時に計測が可能
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エアロゾルモニター DustTrak DRX 8533/8534
空気中のダスト、煙、ヒュームやミストなどのエアロゾル質量と粒径を同時に計測が可能
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粉体・バルク材料の飛散性測定装置 DustView Ⅱ
粉体・バルク材料の飛散性測定をコンパクトに本装置1台で
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Teflo サポートリング付PTFEフィルタ
ガス吸着が少なく精度の高いPM計測が可能
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カーボンエアロゾル分析装置（ラボ用）
NIOSH Method 5040法に準拠し、FID検出器を用いたEC/OC炭素分析装置
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アンダーセンノンバーブルサンプラー AN-200
分級捕集可能なカスケードインパクター
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アンダーセン型低圧カスケードインパクター MAIS-10
分析部分の粒子捕集量増加を可能にした小型多段多孔式低圧カスケードインパクター
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ロープレッシャーインパクター LP-20
ナノ粒子から分級捕集可能な多段・多孔式インパクター
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MCIサンプラー
マルチノズルカスケードインパクトサンプラー(MCIサンプラー)
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Model 120R,122R,125R MOUDI Ⅱ Impactors
捕集プレートの回転で均一な粒子捕集
ナノ炭素材料の作業環境計測
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高濃度対応パーティクルカウンター OPS3330
小型・軽量タイプの粒径分布計測器
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高性能デジタル粉じん計 DustTrakⅡ 8530/8532
空気中のダスト、煙、ヒュームやミストなどのエアロゾル質量と粒径を同時に計測が可能
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エアロゾルモニター DustTrak DRX 8533/8534
空気中のダスト、煙、ヒュームやミストなどのエアロゾル質量と粒径を同時に計測が可能
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カーボンエアロゾル分析装置（ラボ用）
NIOSH Method 5040法に準拠し、FID検出器を用いたEC/OC炭素分析装置
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ハンディカーボンモニター MA350
BC（ブラックカーボン）をリアルタイムで測定
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ハンディカーボンモニター MA300
5波長を用い、BC・有機エアロゾルをスペクトル毎に測定
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ハンディカーボンモニター MA200
5波長を用い、BC・有機エアロゾルをスペクトル毎に測定
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ハンディブラックカーボンモニター AE51(販売終了)
ブラックカーボンエアロゾルの質量濃度をリアルタイム測定
オイルミスト計測
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空気質モニタ BlueSky
PM2.5、PM10などリアルタイム空気質データをクラウド管理
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高濃度対応パーティクルカウンター OPS3330
小型・軽量タイプの粒径分布計測器
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高性能デジタル粉じん計 DustTrakⅡ 8530/8532
空気中のダスト、煙、ヒュームやミストなどのエアロゾル質量と粒径を同時に計測が可能
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エアロゾルモニター DustTrak DRX 8533/8534
空気中のダスト、煙、ヒュームやミストなどのエアロゾル質量と粒径を同時に計測が可能
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エアロゾルスペクトロメーター Promoシリーズ（タッチディスプレイ型）
高分解能な光散乱式のエアロゾル粒径分布計測装置
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welas®センサーシリーズ
エアロゾルスペクトロメーターwelas® /Promoシリーズ用センサー
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Teflo サポートリング付PTFEフィルタ
ガス吸着が少なく精度の高いPM計測が可能
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アンダーセンノンバーブルサンプラー AN-200
分級捕集可能なカスケードインパクター
