半導体・電力CCS・ナノ材料 他
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スポットサンプラを用いたナノ粒子の捕集分析試験
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電子式低圧インパクタにおける粒子の跳ね返り対策と効果
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軟X線中和器を用いた帯電粒子の中和確認試験
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welas digitalシリーズの個数及び質量標準との比較試験
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軟X線中和器とAm241中和器の中和性能比較試験
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不活性ガスによるSMPSの粒径分布評価試験
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Dekati社製DePS™-Goの性能評価試験
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MSP社製 QCM Moudi性能評価試験
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PSL標準粒子の発生及び計測評価試験
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TSI社製 粗大粒子発生装置を用いたKCl粒子の粒径分布測定
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フィルタ捕集効率試験装置TSI model 3160 による各種フィルタの評価例
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Dekati社製HR ELPI+を用いた標準粒子等の計測例
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LiquiScan-ESを用いた金コロイドナノ粒子の計測例
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Liqui Nanoparticle Sizer (LNS) Systemを用いたナノコロイド粒子の計測例
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ハンドヘルドCPCを用いたナノ粒子の計測例
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エレクトロスプレー式エアロゾル発生器を用いた金コロイド粒子発生試験
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UV-APCによるバイオエアロゾル測定の一例
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Water-Based CPC (WCPC) の性能評価試験
