東京ダイレックは粒子計測/流体計測のトータルソリューションを提供いたします。
Dylec 東京ダイレック
サイトマップ関連リンクプライバシーポリシー
ホーム 製品情報 技術情報 展示会・イベント サポート 会社案内 お問い合わせ
ホーム > 製品情報 > 分級器 > パーティクルサンプラー MPS-3
パーティクルサンプラー MPS-3 CMI ロゴ

−SEM・EDXマイクロアナライザー用のサンプラー、3種の粒径グループに分級が可能−
<概要>

同一捕集板に粒径の区別なくパーティクルを捕集しますと、それぞれ重なり合って捕集され小さいパーティクルが大きいパーティクルの下に隠れてしまい、うまく観察できない場合が多くあります。

MPS−3は内蔵された3種類のノズルによって空気動力学的分級を行い、全く違った3種の粒径グループ(0.05〜0.3μm、0.3〜2.0μm、2.0μm以上)に分類、捕集しますので、上記の様な計測上の難点を取り除くことができます。

パーティクルサンプラー MPS-3
カタログダウンロード (PDF 386KB)
<特徴>
  • SEM・EDXマイクロアナライザー用
  • 粒径別にサンプリング
  • 優れた可搬性(軽量、コンパクト)
  • 取扱いが容易
<応用例>
  • セミコンダクター製造、バイオメディカル、製薬等クリーンルーム内のパーティクルの研究
  • 宇宙工学における材料研究
  • 高性能フィルターのチェック
  • 産業用ガス内の不純物の検査
  • コンピューターディスク内のパーティクルの究明、ヘッド・クラッシュ対策
  • 医療・環境の研究 他
<仕様>
分級値 ステージ1:>2.0μm
ステージ2:0.3〜2.0μm
ステージ3:0.05〜0.3μm
捕集板(試料台)径 φ12.3mm
材質 黒煙またはカーボン
サンプルエアー流量 MPS−3型:2.0L/min
MPS−3L型:0.25L/min
電源 120VAC 50/60Hz
重量 3.2kg
寸法 W305×D165×H200 mm(流量計、取手を含む)
※仕様は予告なく変更される場合がありますのでご了承ください。
資料請求・お問い合わせ
Page Top

| ホーム | 製品情報 | 技術情報 | 展示会・イベント | サポート | 会社案内 | お問い合わせ |
(C) 2006 Tokyo dylec corp. All rights reserved.