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コピー機排出粒子計測
UFP計測 トナー・インクジェット粒子計測 サンプラー その他の計測 発生器
 UFP計測
FMPS 高速応答型モビリティパーティクルサイザーModel 3091
リアルタイム(最短1秒)での粒径分布計測が可能に。
5.6〜560nmの粒子に対応。BAM計測対応モデル。国内にて校正可能。
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EEPS 燃焼粒子サイザースペクトロメーターModel 3090
リアルタイム(最短0.1秒)での粒径分布計測が可能に。FMPS 3091の上位機種。5.6〜560nmの粒子に対応。BAM計測対応モデル。国内にて校正可能。

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凝縮粒子カウンター CPC 3775
高濃度(最大濃度107個/cc)まで対応した高性能CPC。最小検出粒径:4nm。
BAM計測対応モデル。国内にて校正可能。
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ナノスキャン SMPS Model 3910
粒径分布、個数濃度の簡易計測が可能に。 対応粒径:10〜420nm
BAM試験前の予備調査に最適
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 トナー・インクジェット粒子計測
APSスペクトロメーター 3321
高分解で粒径分布(空気動力学的径)をリアルタイム測定。
粒径範囲:0.5〜20μm。国内にて校正可能。
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エアロゾルスペクトロメーター welas® digital シリーズ
粒径範囲:0.2〜105μm
高濃度気中トナー粒子、インクジェット粒子の粒径分布計測に。
ユーザーサイドでセンサークリーニング及びメンテナンスが可能。
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高濃度対応パーティクルカウンター OPS 3330
高濃度対応のパーティクルカウンター(最大3000個/cc)
0.3〜10μmの粒径分布を簡単計測。
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 サンプラー
アンダーセン型カスケードインパクター MAIS-10
分析部分の粒子捕集量増加を可能にした小型多段多孔式低圧カスケードインパクター
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アンダーセンノンバーブルサンプラー AN-200
コピー機から排出された粒子を粒径別に分級捕集に適用。
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ロープレッシャーインパクター LP-20
AN-200の下流に4段を追加し減圧条件で捕集することによって、AN-200では対応できなかった微小粒子の分級捕集が可能に。
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 その他の計測
走査式モビリティーパーティクルサイザー SMPS 3938シリーズ
気中ナノ粒子の粒径分布計測に。外添剤計測等に最適。
気中ナノ粒子計測の標準計測器。粒径範囲:2.5nm〜1000nm
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1nm走査式モビリティーパーティクルサイザー 1nm SMPS 3938E77
1nmまで測定可能範囲が広がった走査式ナノ粒子粒径分布測定器
モデル3777 Nano Enhancerとモデル3086 Differential Mobility Analyzer(1nm-DMA)の追加により、SMPSの測定可能範囲は1nmまで広がりました。
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携帯型凝縮粒子カウンター CPC 3007
小型、簡易操作によって10〜1000nm粒子を簡単計測。
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エアロゾルダイリューションシステム VKL シリーズ
吸引ノズル、エジェクターノズル、ミキシングチャンバーで構成されたエアロゾル希釈装置。複数台の使用で最大10000倍希釈まで可能。
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 発生器
エアロゾルアトマイザー Model 3079
溶媒中からサブミクロン領域のエアロゾル粒子を発生できる噴霧式発生装置。
簡単操作で計測器の日常点検にも活用可能。
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エレクトロスプレー式粒子発生器 3480
エレクトロスプレー法により、単分散ナノ粒子を安定して発生することが可能。
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微量粉体エアロゾル発生器 3433
微量の試料を低濃度でエアロゾル化させることが可能な発生装置。
対応粒子径: 約1〜50μm。トナー発生にも活用可能。
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エアロゾルジェネレーター(乾燥分散式) RBG 1000/2000
乾燥分散式のエアロゾル発生装置。
トナーの安定した発生と高い再現性が可能に。
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